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用途：PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測(cè)量原理測(cè)量地表微地貌高程，采用激光掃描獲取各點(diǎn)高程，測(cè)量精度可以達(dá)到亞毫米級(jí)，測(cè)量過(guò)程無(wú)需接觸土壤表面，解決了測(cè)針?lè)▽?duì)土表擾動(dòng)的弊端，測(cè)量結(jié)果更可靠，能準(zhǔn)確反映地表微地貌的細(xì)微變化。
原理及應(yīng)用：利用線性激光的反射與CCD成像原理，將地表形態(tài)轉(zhuǎn)換成不同物象點(diǎn)位置的電信號(hào)，再經(jīng)計(jì)算機(jī)軟件處理成數(shù)字高程模型（DEM），進(jìn)而評(píng)價(jià)土壤侵蝕程度或進(jìn)行相關(guān)機(jī)理研究。相對(duì)于PLS第一代產(chǎn)品，掃描速度更快，精度更高，采用筆記本電腦采集數(shù)據(jù)，野外使用更加方便。
應(yīng)用領(lǐng)域：
■土表微地貌特征評(píng)價(jià)指標(biāo)篩選與算法實(shí)現(xiàn)
■連續(xù)降雨過(guò)程中土表微地貌特征演變
■不同粗糙度土表粗糙度模型建立
■不同坡度剖面侵蝕及侵蝕泥沙分布
實(shí)測(cè)圖：
技術(shù)參數(shù)：
■剖面分辨率：0.5 mm
■垂直分辨率：0.1 mm
■測(cè)量寬度：60 cm
■測(cè)量長(zhǎng)度：最大3 m
■每分鐘可掃描大于400個(gè)剖面
■實(shí)驗(yàn)室和野外都可使用
■沒(méi)有土壤類(lèi)型限制
■數(shù)據(jù)為XYZ 高程或矩陣數(shù)據(jù)
儀器配置：
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主系統(tǒng)： ■3米移動(dòng)滑軌（長(zhǎng)度可按要求定制） ■激光器發(fā)射器 ■CCD照相機(jī)及鏡頭 ■筆記本電腦（可選野外筆記本電腦） ■系統(tǒng)控制箱 ■野外使用可選蓄電池或交流電供電（需訂購(gòu)時(shí)說(shuō)明） |
移動(dòng)框架： ■鋁合金框架 ■4個(gè)萬(wàn)向輪 ■4個(gè)水平調(diào)整器 ■掃描儀固定裝置 |
產(chǎn)地：美國(guó)
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